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棋盤式幾何分辨率測(cè)試卡

熱度:7347 上市日期:2019.04.11
棋盤式幾何分辨率測(cè)試卡被設(shè)計(jì)用來檢查幾何失真和分辨率


  • 名稱:棋盤式幾何分辨率測(cè)試卡
  • 品牌:愛色影(iSeetest)
  • 型號(hào):ISS-190-411
  • 尺寸:可定制
  • 類別:反射式/透射式

  • 價(jià)格:點(diǎn)擊詢價(jià)
產(chǎn)品說明
  1. 測(cè)試卡類似于一個(gè)由13×18的黑色和白色正方形區(qū)域以及由矩形區(qū)域在對(duì)應(yīng)于電子測(cè)試生成器14/19網(wǎng)格光柵線邊緣所包圍的棋盤。(整個(gè)圖卡發(fā)生器的水平網(wǎng)格線被劃分為相應(yīng)于42行)
  2. 九個(gè)扇形星內(nèi)圓線條標(biāo)出625線結(jié)構(gòu)。較大的圓形線條標(biāo)出312線的結(jié)構(gòu)。橫向?qū)?yīng)的垂直線光柵分布著33個(gè)白格。它們對(duì)應(yīng)于2,3.5和5MHz頻率柵格。
  3. 測(cè)試卡可以檢查幾何形狀和光柵的一致性、信號(hào)生成的均勻性、分辨率及其在圖像區(qū)域分布及后焦距。
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